Building Block係列 | 一種“全棧式”光束分析儀(yi) - CINOGY INSIDE係列光束測量係統NanoSight係列 | 近場&焦點光束分析儀(yi) - CINOGY INSIDE係列光束測量係統PowerCube係列 | 近場&焦點光束分析儀(yi) - CINOGY INSIDE係列光束測量係統光斑功率測量儀(yi) - CINOGY INSIDE係列光束測量係統高性價(jia) 比!光束分析儀(yi) 大口徑光束分析儀(yi) - CinCam CMOS係列UV-NIR光束分析儀(yi) (150-1700nm)- CinCam 係列超小尺寸光束分析儀(yi) -CinCam Pico係列緊湊型高精度M2測量儀(yi) (光束質量分析儀(yi) ) - CinSquare係列高功率焦點光斑分析儀(yi) - CinSpot FBP係列高性價(jia) 比!焦點光斑分析儀(yi) - CinSpot AUT-1204係列近場光束分析儀(yi) - NFBP係列線性光束測量分析儀(yi) - CinLine係列中紅外激光光束分析儀(yi) (1.5~8um)CinAlign-在線調試光束分析儀(yi) 中性密度濾波片高功率 寬光譜 光束質量分析儀(yi) KLT-UBP (190nm-5000nm)通用光學測量儀(yi) ——波前/傾(qing) 角/輪廓測量三合一
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一、 CinAlign光束分析儀(yi) – 用於(yu) 測量準直或者較大光斑的激光光束
德國CINOGY国产黄色在线观看為(wei) 通訊領域客戶專(zhuan) 門設計生產(chan) 的CinAlign光束分析儀(yi) ,主要是用於(yu) 測量準直的或者較大光斑的激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等。CinAlign主要分為(wei) CinCam cmos-1202和CinCam CMOS-1201-IR兩(liang) 種相機,基本涵蓋了所有通訊波長,其響應波長範圍為(wei) 320~1610nm,主要用於(yu) 測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長的激光器。CinAlign測量的激光光斑範圍為(wei) 52um~4mm,兼容測量連續以及脈衝(chong) 激光器。
主要特點:
1. 測量的波長範圍:400~1610nm
2. 測量的光斑大小:52um~4mm
3. 實時監控光斑形狀以及變化
4. 分辨率高,高準確度
5. 測量激光光束的光斑大小、橢圓度、能量分布、發散角、功率以及指向穩定性等
主要技術指標:
相機型號 | Cinam CMOS-1202 | CinCam CMOS-1201-IR |
規格 | 1/1.8’’ | 1/2’’ |
通光孔徑 | 6.8mm x 5.4mm | 6.7mm x 5.3mm |
分辨率 | 1280x 1024 | 1280x 1024 |
像素大小 | 5.3um x 5.3um | 5.2um x 5.2um |
波長範圍 | 400~1350nm | 1470~1610nm |
位深 | 8Bit | 8Bit |
動態範圍 | >62dB | >61dB |
接口 | USB2.0 | USB2.0 |
模式 | 連續和脈衝(chong) | 連續 |
尺寸(WxHxL) | 40mm x 40mm x 20mm | 40mm x 40mm x 20mm |
分析軟件 | RayCi-Lite(可升級到Standard, Pro版) |
主要軟件視圖:
(詳細可參考RayCi分析軟件介紹)
1)光斑/橢圓度的測量
2)實時測量,能量分布/光束參數(尺寸大小、橢圓度、位置等)
3)發散角測量
二、近場光束分析儀(yi) – 用於(yu) 測量近場/聚焦激光光束
德國CINOGY国产黄色在线观看為(wei) 通訊領域客戶專(zhuan) 門設計生產(chan) 的近場光束分析儀(yi) ,主要是用於(yu) 測量近場/聚焦光束的焦點光斑大小、焦距、發散角、功率以及指向穩定性等。該係統集成了CinCam CMOS光束分析儀(yi) ,確保了測量的準確性。測量波長範圍為(wei) 320~1610nm,基本涵蓋了所有通訊波長,一般主要用於(yu) 測量850nm、1310nm和1550nm等通訊波長。近場光束分析儀(yi) 係統主要由顯微鏡和CinCam CMOS光束分析儀(yi) 組成,其可測量的聚焦的光斑zui小可達1.1um。另外,該係統為(wei) 一個(ge) 開放式光束分析儀(yi) 係統,其中的CinCam CMOS光束分析儀(yi) 可取下使用,用於(yu) 測量準直的或者較大光斑的光束(zui大測量光斑為(wei) 4mm)。
RayCi-Lite軟件
功能介紹視頻:
主要特點:
1、測量的波長範圍:320~1610nm
2、測量的光斑大小:1.1um~4mm
3、實時監控光斑形狀以及變化
4、分辨率高,高準確度
5、測量焦點位置的光斑大小、發散角、功率以及指向穩定性等
技術指標:
規格 | 10x System | 20x System | 40x System |
波長範圍 | 320~1350nm,1470~1610nm | ||
工作距離(mm) | 10 | 3.3 | 0.6 |
焦距(mm) | 15.26 | 8.55 | 4.39 |
可替換的衰減片 | OD1.0~OD5.0 | ||
光學分辨率(um) | 1.5 | 1.2 | 1 |
光斑大小(um): CMOS1201 CMOS1202 CMOS1203 | ~5.2-267 ~5.3-272 ~4.5-270 | ~2.6-134 ~2.6-136 ~2.3-135 | ~1.3-67 ~1.3-68 ~1.1-67 |
視場(um): CMOS 1201 CMOS 1202 CMOS 1203 | 666 x 533 678 x 543 720 x 540 | 333 x 267 339 x 272 360 x 270 | 167 x 134 170 x 136 180 x 135 |
zui大輸入功率 | 100mW | ||
分析軟件 | RayCi-Lite/Standard/Pro |
主要軟件視圖:
(詳細可參考RayCi分析軟件介紹)
1)焦點位置的光斑/功率/指向穩定性的測量
2)發散角的測量
主要配件:
1、衰減片和衰減器
2、縮束鏡
3、手動/自動導軌
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