透射式掃描用於(yu) 測量樣品的透射率，將相機放置在樣品的一側(ce) ，而將光源放置在另一側(ce) 。透射式光譜測量與(yu) 反射式光譜測量有許多不同點或差異的地方，本文討論了在進行此類測量時可能出現的缺陷和注意事項。
測量透射式高光譜時需要考慮什麽(me) ？
我們(men) 經常會(hui) 收到關(guan) 於(yu) 透射式掃描高光譜的詢問。透射式掃描用於(yu) 測量樣品的透射率，將相機放置在樣品的一側(ce) ，而將光源放置在另一側(ce) 。本文討論了在進行此類測量時可能出現的缺陷和注意事項。
1.環境光
照射到樣品表麵的環境光會(hui) 導致用戶測量的是透射和從(cong) 物體(ti) 表麵反射的混合光，而不是純粹的透射光。因此，測試係統要麽(me) 應該在一個(ge) 完全黑暗的房間中操作（這不容易實現）——要麽(me) 在係統周圍設計一個(ge) 遮光板來擋住環境光。典型的透射信號是比較低的，需要較長的積分時間。這意味著環境光的反射，如果存在，就會(hui) 強烈地影響著實際測量的物品。在透射式測量的情況下，即使是來自計算機顯示器的光也會(hui) 影響測試結果。
2.雜散光
如上文所述，一個(ge) 遮光板能夠防止環境光反射到樣品上。然而，設計一個(ge) 合適的外殼並不是容易的。通過樣品或透射窗的光線可能會(hui) 在防護罩上反彈，然後再次照射到樣品表麵，導致二次反射。此外，樣品之間和它們(men) 邊緣處的空間還會(hui) 導致兩(liang) 種類型的雜散光問題:
1)直接照射到相機物鏡上的光線，又會(hui) 反彈到樣品上。這將再次引起不必要的反射光。
2)直接照射光往往比透射光強，在整個(ge) 係統中帶來比較簡單的雜散光，這會(hui) 影響樣品的傳(chuan) 輸信號。
為(wei) 了避免任何多餘(yu) 的雜散光，specim建議在透射窗口或具有樣品形狀的線上使用掩膜，避免不必要的直射光通過係統。
3.白校正
對於(yu) 任意一個(ge) 成功的透射式光譜測量，白參考也起著很重要的作用，需要特別注意歸一化。白參考在高光譜成像中是至關(guan) 重要的，無論是哪種測量幾何學(反射式、吸收和透射式)。它測量進入到相機的入射光(在到達樣品前)(考慮到探測器的量子效率和光學的傳(chuan) 輸性能)。對於(yu) 經典的反射式測量，通常使用漫反射白板。然而，相同的漫反射白板不能用於(yu) 透射式測量中，因為(wei) 它是有點不透明。在不擋住相機光照的情況下，可以使用更薄的校正板，以使部分光線通過。
另一種方法是使用白色或灰色陶瓷。這種材料可以作為(wei) 載體(ti) 來放置樣品，測量透射光也是很合適的。此外，陶瓷還具有擴散器的作用，提高了測量的均勻性。但在任何情況下，我們(men) 都不建議直接測量入射光。直射光的測量需要很短的積分時間，而樣品的測量則需要很長的積分時間。這種積分時間的不匹配需要2個(ge) 積分時間來修正。一個(ge) 合適的透射係統需要非常仔細的規劃和設計。此外，它的使用也需要有很好的記錄。
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