中文：橢圓偏振測量術；英文：ellipsometry

解釋
中文：橢圓偏振測量術；英文：ellipsometry的原理；中文：橢圓偏振測量術；英文：ellipsometry的定義；中文：橢圓偏振測量術；英文：ellipsometry是什麽。
 簡稱“偏振測量術” “橢偏術”。利用橢圓偏振光在遇到樣品被反射散射或透射時，其偏振狀態的改變而實現的一種測試技術。常用於測量薄膜的厚度、折射率等光學常數，並廣泛用於生物學、半導體物理、腐蝕與表麵科學以及電化學等領域。