光學相幹斷層成像係統(OCT)OCT專(zhuan) 用光譜儀(yi) (Wasatch)1.7MHz高速掃頻光源超連續譜激光器(>3000mW, <10ps, 450-2300nm)樣機免費試用Aval-data 高速數據采集卡Acqiris 高速數據采集卡OCT用體(ti) 全息光柵(Wasatch)Superlum超輻射發光二極管(SLD)/寬帶光源SLD光源OCT專(zhuan) 用相機Acqiris SA220P 高速數據采集卡Acqiris SA248P 高速數據采集卡Acqiris SA3 高速數據采集卡Santec HSL 高速掃頻光源紅外光學相幹斷層成像係統
中紅外光學斷層相幹成像係統(MIR OCT)
中紅外OCT利用紅外光對特定材料的穿透性能,比如工業(ye) 膜,陶瓷,紙張,纖維、聚合物等,可用於(yu) 無損檢測、厚度測量、亞(ya) 表麵缺陷檢測等。
參數指標:
中心波長 | 4.1 | um |
帶寬 | 1.1 | um |
軸向分辨率(in air) | <9 | um |
橫向分辨率 | <16 | um |
成像深度(in air, 6dB roll off) | 2.3 | mm |
線掃速度 | 3.3 | kHz |
B-Scan采樣時間(1,000 point) | 0.3 | s |
掃描麵積(mirror scan) | 3×3 | mm |
掃描麵積(mechanical stages) | 75×75, 100×100, or 200×200 | mm |
設備尺寸(L×H×W) | 65×65×170 | cm |
設備重量(Plastic/MDF/steel carbinet) | 65 /80 /100 | Kg |
Maximum樣品尺寸 | 75×75, 100×100, or 200×200 | mm |
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信用卡內(nei) 部芯片成像 氧化鋁陶瓷亞(ya) 表麵結構
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