高速熒光壽命顯微成像係統 - LIFA共聚焦拉曼成像係統AUT- XperRAM C 掃描光電流顯微鏡AUT-phocuscan定製化熒光壽命成像係統光電流成像係統AUT-XperRam P-Scan
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高效率熒光壽命成像係統
熒光壽命成像或FLIM是基於(yu) 熒光樣品中不同區域的熒光的指數衰減速率的差異。 由τ決(jue) 定熒光壽命成像的每個(ge) 像素的強度,這使研究 人員可以查看具有不同熒光衰減率的材料之間的對比度,還可以產(chan) 生顯示其他衰減路徑變化的圖像。 可以通過使用脈衝(chong) 源在時域中確定熒光壽命。 當熒光物質被超短脈衝(chong) 激發時,時間分辨的熒光將呈指數衰減。 時間相關(guan) 單光子計數(tcspc)通常被用作熒光壽命的測量方法,因為(wei) 它補償(chang) 了在源強度和單光子的脈衝(chong) 幅度的變化。 更具體(ti) 地說,TCSPC由單個(ge) 光子雪崩光電二極管 (SPAD)記錄相對於(yu) 激發激光脈衝(chong) 的單個(ge) 光子的壽命。 重複記錄多個(ge) 激光脈衝(chong) ,並在記錄了足夠多的事件後,研究人員能夠建立所有這些記錄的時間點上事件數量的直方圖。 然後,可以將該直方圖擬合到的指數壽命衰減函數的指數函數,並且可以相應地提取壽命參數。 Xper-FLIM配備了單光子雪崩二極管檢測係統,可以提供低成本檢測通道選項,從(cong) 而為(wei) FLIM研究人員實現超 快速分析。 Xper-FLIM也可用於(yu) 倒置顯微鏡或正置顯微鏡,滿足其他国产成人在线观看免费网站需求。
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熒光壽命成像的原理:
高效率熒光壽命成像係統測試案例:
高效率熒光壽命成像係統規格參數:
顯微鏡 | - -反射LED照明器,用於(yu) 明場 - -帶有右手控製的機械X-Y載物台 - -自動控製的Z軸位置 - -包括主機架,平台板,控製箱,接口電纜,電源線 - -40倍物鏡(其他選項:10倍,20倍,50倍和100倍) - -正置或倒置顯微鏡 |
掃描模塊 | - -波長範圍:400~1000 nm - -激光掃描模式:壓電掃描 - -掃描範圍:200μm×200μm(使用40倍物鏡時) - -包括用於(yu) 光學圖像采集的15 MP攝像頭(使用40X時,FOV:220μm×150μm) - -包含一個(ge) 控製器(USB1.1) - -掃描速度:> 100行/秒 |
光源 | 皮秒脈衝二極管激光器和驅動器 -波長:390~700 nm -自由空間/光纖耦合選擇(可選) |
濾波片 | 選擇與(yu) 激光波長相對應的濾光片 - -波長範圍:390~700 nm - -可在濾光鏡盒中互換用於(yu) 相應的激光器 |
機身 | - -1個(ge) 插槽,用於(yu) 連接激光中性密度(ND)濾鏡或偏振鏡 - -2個(ge) 用於(yu) 連接偏振片或波片的插槽 - -1個(ge) 插槽,用於(yu) 連接可互換的濾波片套件 - -具有三個(ge) 激光器空位。 - -可安裝光纖耦合端口。 - -提供穩定的光束對準平台 |
探測器 | 光子檢測效率 - 24 % at 400 nm - 49 % at 550 nm - 37 % at 650 nm - 有效區域直徑:50μm - 暗計數:<250,<100,<50,<25 cps(取 決(jue) 於(yu) 探測器的等級) -NIM定時輸出:50 ps - 脈衝(chong) 後可能性:<3% |
光源驅動 | -重複頻率:31.25 kHz~80 MHz -觸發:-1至+1 V電平(可調) -頻率範圍:10 Hz~80 MHz -同步輸出:幅度<0.8 mV到50歐姆 |
計數器 | 計時電路 - -檢測通道:1或2 - -時間範圍:25 ps - -觸發:0~-1200 mV - -計數率:40 MHz - -標記:TTL x4 |
軟件 | - -熒光壽命采集和成像 - -頻譜數據導出格式:.txt,.csv - -2D映射數據導出格式:.spm,.csv |
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