寬場熒光顯微鏡校準片-集成功率計結構光顯微鏡校準片-集成功率計高分辨率測試靶（分辨率靶）Argolight超分辨顯微熒光成像校準片Argolight共聚焦顯微熒光成像校準片Argolight寬場顯微熒光成像校準片Argolight高內(nei) 涵酶標儀(yi) 熒光成像微孔板顯微鏡熒光校準片適用於(yu) 寬視野/超分辨/共聚焦共聚焦熒光顯微鏡校準片-集成功率計
高分辨率測試靶 Test Chart
 | ◆ 負片圖案設計 ◆ 基底為(wei) 10x10mm²，設計緊湊，尺寸穩定性良好 ◆ 采用高精度電子束光刻技術製作 ◆ 結構尺寸低至100nm ◆ 分辨率可達到3300 lp/mm |
| 昊量光電推出的 Test chart 標準尺係列是由高精度的電子束光刻製作而成，這些圖案蝕刻在具有廣譜透射(DUV-VIS-NIR)的，基底為一個10×10 mm²石英襯底上。在襯底上施加了高光密度的鉻層，之後通過燒蝕鉻層，使得結構尺寸可以降低到100納米的同時保證了設計的精度，這種方式也保證了結構邊緣的良好尺寸公差和直線度。其結構為負片圖案，且每個靶上的負片圖案允許結構透明，而背景被鉻層阻擋。同時為配各類顯微鏡物鏡使用，有多種圖案可以選擇，且所有圖案都可以有一個厚度0.17毫米的覆蓋玻璃的版本可用。 |
標準載玻片靶 TC-RT01 —— 7.5-3300 lp/mm+4.0-0.25um pinholes |
通過高分辨率的RT01，可以非常輕鬆、快速地在傳(chuan) 輸光下確定目標的分辨率限製。水平和垂直對齊共有 59 條線型，涵蓋了精度從(cong) 每毫米 7.5條線對 到 3300 條線對。 同時結構的簡單排列和測試結構尺寸的直接讀取確保了直觀的處理。此外，還有5個(ge) 直徑在4.0-0.25 um之間的針孔，可以實現微成像光學元件的詳細表征 |  |
| 西門子星狀靶 TC-RT02 —— Resolution testchart with very high precision |
 | 該標準尺由 5 顆西門子星組成， 其特點是星中心的錐形部分製造的寬度低至為(wei) 150nm。該測試目標板非常適合於(yu) 確定具有非常高數值光圈的顯微鏡物鏡的分辨率 |
| 載玻片檢查板TC-CB50 —— CheckBoard of 50 x 50 um² squares |
高分辨率顯微鏡檢查板的特點內(nei) 部每個(ge) 正方形均為(wei) 50 x 50 平方微米，整體(ti) 尺寸為(wei) 9.0 x 9.0 平方毫米。該靶片非常適合於(yu) 測試圖像偏斜和曲率，以及確定由於(yu) 直線和銳邊導致的圖像質量。 |  |
| 熒光載玻片線對靶TC-RT03 ——fluorescent resolution test target up to 5000 lp/mm |
 | 利用這張熒光超高分辨率測試靶，可以確定全視野內(nei) 高端顯微鏡物鏡的分辨率和MTF。在水平和垂直排列中，間距降至200nm（每毫米5000對線對）的線圖案，可以獲得可用的油浸目標的分辨率限製。針孔排列在覆蓋10x、20x、40x、63x和100x物鏡視野的網格上。測試圖的結構是在厚度為(wei) 0.17mm+/-5µm的高精度覆蓋玻璃上製作的，粘在透明熒光底板上。因此，測試載玻片可以用於(yu) 熒光和亮場模式或激光掃描顯微鏡。這些結構被實現為(wei) 負的，即隻有這些結構是透明的，而背景被一個(ge) 鉻層所阻擋。還有一個(ge) 版本可用於(yu) 不需要蓋波片的物鏡。 |
| 高分辨率顯微鏡靶通用規格 |
Pattern Tolerance: | 100nm/cm |
光密度 OD: | OD>8 @ 400nm, 6 @ 550nm, 4.5 @ 750nm, 3.6 @ 1000nm |
光譜範圍: | 200 - 2000nm |
基底: | Fused Silica w/Chrome deposit |
尺寸 (mm): | 10 x 10 x 1 |
構造 : | Stainless Steel, 75 x 25 x 1.5mm, microscope slide format |
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