在磁性材料中折射率不同，从而使得两种偏振光在磁性样品中传播的过程中产 生了光程差，进而产生相位差，从样品中出射后两种偏振光合成的透射光就表现 为偏振面较入射光来讲发生了一定角度的偏转。塞曼效应是指在外磁场中，光源发出的光的各能级谱线在磁场下进一步分裂 成更多条，并且分裂出的各谱线的间隔和外磁场的大小成正比的磁光效应，该效 应的原理是原子的自旋磁矩和轨道磁矩在外磁场的作用下能级会发生进一步的 分裂。塞曼效应的发现直接推动了量子力学的完善并导致自旋这一自由度被发现。图1.三种克尔效应示意图，从左至右依次为极向、纵向和横向克尔效应则是说当偏振光在磁性样品表面被反射后，反射光的偏振面相对入射光发生一定 ...
有蓝宝石的双折射效应。三、具体实验验证实验采用YAG晶体，中心波长1030 nm的飞秒激光器，脉宽约为400 fs，重复频率为300 kHz。利用显微物镜将激光束聚焦于样品表面，光斑大小3.5 um。样品的移动通过高精度三维电控位移台实现。对YAG晶体样品表面的不同位置进行辐照，所有实验均在常温、常压的空气中进行。单脉冲作用后的烧蚀形貌如图所示，在单脉冲烧蚀下，损伤坑的直径随着脉冲能量的增加而增加而增加。在飞秒激光作用后，在烧蚀坑内和周围形成了一定数量的纳米颗粒。图1.单脉冲烧蚀形貌记录多脉冲作用下，孵化效应在烧蚀过程中扮演重要角色。在介电材料和半导体材料中，由外部激光作用引起的晶格缺陷，可以 ...
从而引起材料折射率和增益系数的改变，也会使激光器的发射波长以阶梯形式跳跃变化。而MOGLabs的激光器控制器可以很好的解决这一问题，它是一款超低噪声半导体激光器控制器，一款集电流控制、温度控制、频率锁定等功能为一体的ECDL控制器，集八大功能于一体，提供用于驱动ECDL激光器和将其锁定到外部参考源的重要部件。每一台DLC控制器都包括：微分低噪声探测器，700kHz带宽；超低噪声二极管电流源，< 100pA/√Hz，直流至1MHz；带有珀尔帖TEC驱动的温度控制器；扫描振荡器；一对高压压电驱动；解调器（锁相放大器）；微分光电探测器；交流调制源；伺服反馈回路滤波电路；人体工程学控制，包括5位 ...
于确定它们的折射率、电导率和其他基本参数。挑战实现高性能太赫兹时域光谱系统的关键挑战之一是光学延迟扫描。传统的太赫兹系统一直使用机械光学延迟线，但这样通常需要在扫描速度和扫描范围之间进行权衡。长距离的高速移动是这些机械设备的重大挑战。太赫兹时域光谱系统经常国产成人在线观看免费网站于检查厚度的光学系统之中，其中反射光需要被较大的光学延迟所分开，同时，系统也需要足够的光谱分辨率来解析光谱特征。快速的光学延迟扫描在满足这两个要求方面发挥着至关重要的作用。通过快速光学延迟线，太赫兹系统可以部署在快速点扫描国产成人在线观看免费网站和需要在短时间内检查大表面区域的工厂中。在这些场景中，机械的光学延迟通常难以实现高吞吐量的性能要求。采用单腔双梳的 ...
-10(a)折射率n值来看，没有沉积之前即0s时，n值从300nm-800nm不断减小，在300nm-500nm波段平缓，500nm处骤减，600nm-800nm达到zui小值且有波动。与0s相比，不同沉积时间在300nm-500nm波段每个沉积时间的变化趋势一致，数值上180szui大，360szui小，其余介于二者之间；都在330nm和410nm附近存在波包。在500nm-800nm波段，变化趋势比较相似，数值上比0s的大，但是存在波动，特别是180s在600nm附近存在骤减。从图4-10(b)消光系数k值来看，0s时k值从300nm-800nm不断增加，在300nm-500nm波段平缓， ...
移、厚度以及折射率等物理量。工作原理：当两束光的频率相同、振动方向相同且相位差恒定时，它们可以发生干涉。通过调节干涉臂的长度或改变介质的折射率，可以形成不同的干涉图样1113。干涉条纹实际上是等光程差的轨迹，因此，分析干涉产生的图样需要求出相干光的光程差位置分布的函数。迈克尔逊干涉仪的zhu名国产成人在线观看免费网站之一是迈克尔逊-莫雷实验，该实验证实了以太的不存在，为狭义相对论的基本假设提供了实验依据。此外，迈克尔逊干涉仪还在引力波探测中得到广泛国产成人在线观看免费网站，如激光干涉引力波天文台（LIGO）等，通过测量由引力波引起的激光的光程变化来探测引力波。迈克尔逊干涉仪还被国产成人在线观看免费网站于寻找太阳系外行星的探测中，以及在延迟干涉仪，即光学 ...
OLED厚度测量OLED结构用于从电视屏幕到手机的许多国产成人在线观看免费网站中。典型的OLED结构包括夹在电极之间的三个薄有机层:HTL(空穴传输层)、EML(电子迁移率)或空穴阻塞层和ETL(电子传输层)。图1 OLED的结构示意图构成OLED结构的薄膜的计量是至关重要的。MProbe UVVis和MProbe UVVis- msp提供了一种廉价、可靠、非接触的计量方法。可以测量材料的厚度和光学常数。MProbe UVVis可以测量毯状(无图案)样品，MProbe UVVis-msp可以使用非常小的光斑尺寸在像素级进行测量。一、测量实例图2玻璃上ITO(透明导电氧化物)的测量-使用参数化ITO模型确定厚度和光 ...
PCBA上的涂层厚度测量在pcb制造过程中，通常采用保形保护涂层来保护电路。根据规格要求涂不同的涂层。涂层范围从简单的水溶性防尘涂层(通常< 20μm)到专门的疏水涂层(<1 μm)。MProbe 40可以直接在PCBA上测量涂层厚度，以避免使用测试片的成本和不准确性。测量可以在PCBA的不同区域进行，包括SMT元件表面，以验证涂层的均匀性和厚度。测量通常使用40 μm或20 μm的可见或可见-近红外范围(400-1000 nm)的测点进行。实例1 测量PCB表面的水溶性涂层图1 涂覆PCB的反射光谱图2 PCB测量区图3 测量结果:18.4µm涂层和0.6µm界面层图4 PCB上 ...
粗糙表面上的膜厚测量由于光散射，粗糙表面上的薄膜厚度测量通常具有挑战性。事实上，表面粗糙度和厚度不均匀性是降低光谱反射系统厚度测量能力的两个主要因素。然而，这些特性通常存在于许多现实生活中，例如金属涂层。MProbeMSP提供了一种解决方案来克服这一限制，甚至可以测量z具挑战性的国产成人在线观看免费网站。解决方案的关键是表面粗糙度和厚度不均匀性都取决于测量区域。通过减小测量点尺寸，可以减少有效粗糙度和厚度不均匀性（在该点内观察到）。一、表面粗糙度表面粗糙度会导致光散射增加。这导致镜面反射率降低和干扰减弱。编织长度越短，光散射越明显。因此，长可见光和近红外(NIR)波长范围(700-1700nm)更适合表面粗糙度的 ...
该波导由一个折射率高于周围材料的通道组成。图1：集成光波导光通过通道壁的全内反射来引导。根据波长、衬底折射率、折射率差、通道的宽度和深度，可以激发一个或多个横向振荡模式。单模操作是非常有价值的，因为它是许多集成的光学元件的功能。集成光学元件特别是在光通信技术中通常配备光纤，线性电光效应，也称为波克尔效应，是一种二阶非线性效应，包括在外加电场时光学材料折射率的变化。折射率的变化量与电场强度、其方向和光的偏振率成正比。制造集成光调制器的shou选材料是铌酸锂（LiNb3）。如果使用长度为L的电极将电场施加于电导，则电极之间区域的折射率会发生变化，从而产生引导光的相移，相移与所施加的电压会呈线性关系 ...
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