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阻抗分析與斷層成像

阻抗分析儀(yi) 是一種電子測試儀(yi) 器。阻抗分析儀(yi) 可以測量複數電阻隨測試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件,電子電路和元件材料的一個(ge) 很重要的參數。另外,阻抗分析可以還被国产成人在线观看免费网站到介電材料,比如生物組織,食品和地質樣本中。它的原理是通過相敏檢測,同時測量器件在掃頻測試過程中的電流和電壓。阻抗分析儀(yi) 的主要參數分別是頻率範圍,阻抗範圍,阻抗幅值的精度和相位精度。更進一步的還包括測量速度,以及在測試中施加電壓或者電流偏置的功能。


阻抗分析儀(yi) 測得的阻抗包含阻抗幅值,實部,虛部,以及由電壓和電流造成的相位(差)。根據等效電路模型,一些阻抗參數包括電導,電感和電容,即可被輕鬆的計算並顯示出來。阻抗分析儀(yi) 一般能夠提供高精度的阻抗測量,比如0.05%的基本精度,從(cong) µHz到GHz的頻率範圍,從(cong) µΩ 到 TΩ的幅值範圍, 同時還有10 mdeg 的相位精度。與(yu) 阻抗分析儀(yi) 相比,LCR測試儀(yi) 也提供了阻抗測量的功能。一般來說,它的精度比較接近阻抗分析儀(yi) ,但是頻率範圍較低。同時,LCR測試儀(yi) 隻能測量固定頻率下的阻抗,不能掃頻,也不能圖形化顯示測量結果。