通常對偏振態進行測量時，如果隻使用一個(ge) 光彈調製器，則需要進行兩(liang) 次測量才能得到全部的信息，即在光彈調製完成首次測量後，需要旋轉45度在進行一次同樣的測量。雙光彈調製器則隻需一次測量即可得到所需信息，這就是實時測量成為(wei) 可能。
Hinds Instruments提供多種雙光彈調製器的選項，型號如下：
•PEM 100 I/FS50-60
•PEM 100 II/FS20-23
•PEM 100 II/FS42-47
•PEM 100 II/ZS37-50
I/FS50-40（I/FS50-55, I/FS47-50）使用I係列光彈調製器。係列I的光學部件為(wei) 八邊形，口徑有限，適用於(yu) 較小光斑。因此，當隻有一束激光入射時，I係列光彈調製器一般可以滿足要求。
II/FS20-23和II/FS42-47係統同樣為(wei) 熔融石英材料，在170nm到2.6um擁有高透射率。兩(liang) 種型號在可見光和近紅外都適用。II/FS20-23係統擁有更大的口徑。如果光斑較大或者是多束光束時可以選擇II/FS20-23。雙光彈調製器通常用於(yu) 測量斯托克斯量，用於(yu) 測量氘原子發射到托卡馬克等離子體(ti) 的光束的偏振態。II/42-47也可用於(yu) 測量斯托克斯量並且擁有更加緊湊的光學頭。II/ZS37-50為(wei) 光學頭材料為(wei) ZnSe，波長範圍為(wei) 2-18um，用於(yu) 近紅外光譜，頁可用於(yu) 寬帶光源或者近紅外激光，例如CO2激光器。
多數雙光彈調製器係統使用係列II光彈調製器。係列II能夠滿足高要求的偏振態調製，並提供超大口徑對稱的延遲。
和其他Hinds光彈調製器一樣，雙光彈調製器的特點包括：入射角範圍大(> ± 20 degrees)，在一個(ge) 寬波長範圍內(nei) 有很好的透射率，高損傷(shang) 閾值和高偏振靈敏度。
選項
反射膜(ARC)，定製
獨特的光彈調製器支架(UPM)
特殊的矯正選項(SCO)
特殊的頻率選項(SFO)
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