橢偏成像技術的測量基於(yu) 傳(chuan) 統橢偏測量術，即用偏振光波為(wei) 探測光照射樣品，樣品對入射光波進行調製，使得反射光中載有樣品的信息。
橢偏儀(yi) （二）-光在各向同性且均勻的界麵反射原理
橢偏成像技術的測量基於(yu) 傳(chuan) 統橢偏測量術，即用偏振光波為(wei) 探測光照射樣品，樣品對入射光波進行調製，使得反射光中載有樣品的信息。橢偏測量係統包括三個(ge) 基本部分：起偏部分、樣品部分和檢偏部分。起偏部分用於(yu) 產(chan) 生偏振態已知的橢圓偏振探測光；補償(chang) 器和起偏器相結合可以產(chan) 生任意形態的橢圓偏振，探測光傾(qing) 斜入射到樣品表麵，與(yu) 樣品相互作用使得反射光偏振態發生變化，從(cong) 而載有樣品信息；反射光經過檢偏器後變成線偏振光，通過顯微成像係統，橢偏成像在 ccd 相機等圖像傳(chuan) 感器上；攝像機采集的模擬信號通過視頻顯示器顯示，並進一步經圖像采集卡進行A/D轉換，轉變成數字圖像文件進入到計算機。通過計算機，對數字圖像文件進行分析獲得樣品的信息。
一束單色光投射在一各向同性且材質均勻的界麵上，上半部分折射率為(wei) n1，下半部分折射率為(wei) n2，光會(hui) 在界麵處發生反射和折射，如下圖所示。
示意圖 單色光在各向同性且材質均勻的界麵上的反射和折射
其中Eip、Erp和Etp分別為(wei) p光的入射、反射和折射電矢量，Eis、Ers和Ets分別為(wei) s光的入射、反射和折射電矢量，θ1和θ2為(wei) 入射角和折射角。光波電矢量可以分解為(wei) 振動方向平行於(yu) 入射麵的p光和振動方向垂直於(yu) 入射麵的s光。分別定義(yi) p光和s光的反射係數rp和rs，由麥克斯韋方程組和邊界條件，能夠推導出p光、s光的反射係數與(yu) 介質折射率、入射角和折射角的關(guan) 係，即菲涅耳反射係數。
如果您對橢偏儀(yi) 有興(xing) 趣，請訪問上海昊量光電的官方網頁：
https://www.weilancj.com/three-level-56.html
更多詳情請聯係昊量光電/歡迎直接聯係昊量光電
關(guan) 於(yu) 昊量光電：
上海昊量光電設備有限国产黄色在线观看是光電国产欧美在线專(zhuan) 業(ye) 代理商，国产欧美在线包括各類激光器、光電調製器、光學測量設備、光學元件等，涉及国产成人在线观看免费网站涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳(chuan) 感、激光製造等；可為(wei) 客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，係統集成等服務。
您可以通過我們(men) 昊量光電的官方網站www.weilancj.com了解更多的国产欧美在线信息，或直接來電谘詢4006-888-532。
