偏振分光镜、波片、反射镜等误差源开展了很多研究工作，并取得了许多有意义的研究成果，提出了多种非线性误差测量与补偿的方法。在激光干涉测量非线性误差研究中，偏振分光镜(Polarizing Beam Splitter，PBS)一直是研究的重点，而对于非偏振分光镜(Nonpolarizing Beam Splitter，NPBS)引入的非线性误差，国内外一直缺乏相应的研究。Hou等人在迈克尔逊式外差干涉位移测量实验中，观测到NPBS引入的测量误差，并发现采用不同激光源，位移非线性误差约为1.6～2.2nm，但是各种论文没有给出相应的理论分析以及NPBS对误差的影响机理。本文针对基于横向塞曼激光器的马 ...
自校准法测量波片相位延迟[J].中国激光,2012,39(4):173-179.3王喜宝,宋连科,朱化凤,郝殿中,蔡君古.连续偏光干涉法测量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林天夏,黄佐华,何振江.利用消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位 ...
000：1，波片1在中心波长532.4nm处为近1／4波片，由步进电机控制两元件旋转，转动精度优于2′，由计算机控制360°自由旋转。图1 斯托克斯椭偏仪仪器矩阵测量装置示意图实验中，被测量的斯托克斯椭偏仪由两个KD*P电光晶体KD*P1和KD*P2、波片2、检偏器和光纤光谱仪组成。高压调制器以倍频的关系控制两KD*P两端电压的快速反转，从而实现入射光斯托克斯参数的完全调制。光纤光谱仪主要包含微型光栅和线阵CCD，可以同时得到多个波长处的光强值，可测光谱为300～1100nm。整个测量系统由Labview软件编程实现自动化控制。一般情况下，入射光的斯托克斯参数、波片的方位角误调和相位延迟随波长 ...
S1，S2，波片1的初始方位角误差和相位延迟δ作为已知量修正四点定标法和E-P定标法。修正后测得的仪器矩阵如图1所示，3种方法的结果基本保持一致。由此表明，非线性zui小二乘拟合方法在偏振定标过程中有效地提高了测量精度，避免了入射光源的偏振效应、定标单元中光学元件初始方位角和相位延迟误差对测量精度的影响。图1 修正后斯托克斯椭偏仪的仪器矩阵x定标结果采用反演的方式来估计仪器矩阵的准确性，即通过测量各角度下的光强值，结合仪器矩阵反演出对应角度的斯托克斯分量，将其与理论值进行对比分析。测量方法为：将校准单元中起偏器的方位角固定为0°，以10°为步长，从0°到360°旋转波片，由此产生37个不同的偏 ...
。通过1/4波片改变测量光束的偏振方向，测量光束两次通过测量路径，因此，分辨率相对于角反射器型加倍。(3)影响测量结果及不确定度的因素当光干涉技术用在长度测量中时，应该考虑空气折射率的影响。空气折射率的校正方法有两种，一种是测量环境参数，如空气温度、空气压力、湿度及二氧化碳的密度，然后使用经验公式计算及校正空气的折射率。另外一种方法是用长度稳定的腔体，即波长跟踪器来测量,它由稳定的腔体及差分干涉仪组成，如图所示。一束偏振光是经标准腔体的前表面反射，另一束是经后表面反射。这种差分干涉仪可测量腔体的光学长度。腔体是由具有很小热膨胀系数的材料制成的，其几何长度非常稳定；因此，腔体的光学长度变化可认为 ...
一个四分之一波片(QWP)。然后，圆形或线性极化光束通过50:50的分束器(BS)，其中50%被引导到attoDRY2100磁光低温恒温器(1.7 K基温，9 T超导磁铁)内的物镜。然后，从样品(S)反射的光束通过圆偏振收集光学元件(QWP和LP)，用长通滤光片(LPass)过滤，然后聚焦到光纤上，该光纤通向带有CCD相机(Andor)的750毫米光谱仪。采用可调谐连续波光源进行光激发。图1.a)是极化PL设置。在输入端和输出端分别加一个短通(SPass)和长通(LPass)来降低泵浦激光噪声。在收集方面，光纤可以通向光谱仪或单光子计数器。泵浦探针时间分辨装置b)有一个FM(翻转镜)，可用于在 ...
束器或λ/4波片以及偏振分束器用来引导光束入射于电视摄像机上。这种斐索干涉仪，需要采用长焦距的准直透镜来获得高的精度。干涉条纹函数I(x,y)：式中，I。为背景光强度；y(x,y)为条纹调制函数；φ(x,y)为被测条纹的位相分布函数；φ。为参考面与测量面间光程差引起的初位相.为了从干涉条纹函数中获得位相分布函数φ(x,y),采用了相移法。相移时，条纹位相随着光程或波长变化而发生移动。当给定附加相移φi，干涉条纹函数I(x,y)为:理论上，为了计算位相分布函数φ(x,y),要求i>3。对于标准的相移法，位相步长为2Π/j,j≥3,是个整数，如φi-φi-1,=2Π/j。为了获得精确的位相分 ...
，偏振片，半波片与四分之一波片等。利用这些器材，我们就可以着手开始验证其产生光子对的偏振纠缠性。图11 验证光路示意图图12 实际光路我们搭建了如图所示的光路，我们首先使用可见光源与功率计将准直器对准。然后更换为1550nm偏振光源与功率计，分步加入偏振片、半波片与四分之一波片并调整角度，zui后更换为光子源，单光子探测器与计数器，光子源的信号光与闲置光将分别经过光纤，通过四分之一波片、半波片与偏振片，zui后由探测器探测，由计数器进行符合。我们保持光路光路其他波片固定，通过转动其中一个半波片并固定，我们可以在计数器中看到符合计数产生了变化。随着半波片的旋转，符合计数也随之发生正弦变化。本次实 ...
转的四分之一波片来补偿椭圆度，zui后进入汤姆逊偏振分光器。为了zui大限度地提高灵敏度，分离器设置在45◦的入射(未干扰)偏振。分路器提供两束正交偏振方向的光束(图1b)，击中一对象限光电二极管。每一对相对的象限分别沿着样本的x轴和y轴的投影对齐。两束是相等的强度为未受干扰的45◦偏振的情况下，而任何样品诱导的偏振旋转导致相等但相反的强度(45◦是zui敏感的角度对小的偏振变化)。通过适当地组合八个光电二极管象限的输出，可以同时检测和分离三个正交的磁化分量，只要它们的采样几乎相等，这对于具有高数值孔径的物镜是正确的。如图1c所示，在两束入射方向相反的光束的激励下，纵向克尔对比改变符号，而极性 ...
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