研究氟化钙的双折射摘要：本文介绍使用一种PEM光弹调制器，其中PEM的速度为整个的双折射映射打开了大门 ，通过在信号处理方案中增加一个额外的锁相放大器，可以进一步提高测量速度。除了速度，PEM技术还提供了较高的双折射测量精度。业内得到共识的是，氟化钙CaF2是一种实用的光学材料，用于157纳米光刻步进和扫描透镜。制备高质量的低应力双折射CaF2一直是一个挑战。除了这种应力诱导双折射，约翰·伯内特和他在NIST的同事们发现了CaF2沿<110>在157.6纳米处的晶体轴径为11.2纳米/厘米这一消息对于光刻工业来说是一个不受欢迎的意外，因为他们错误地认为属于立方晶体群的CaF2是一种 ...
折射率引导型光子晶体光纤的结构类型与机理前言：光子晶体光纤（Photonic Crystal Fiber，PCF）的概念。与普通光纤是由包层与纤芯两种介质组成向类比，光子晶体光纤通常是由单一介质构成的，其包层周期性地规则对称分布着具有波长量级的空气孔阵列，包层外为涂覆层。因此，也可以称其为“多孔光纤”（HoleyFiber）或“微结构光纤”（MicrostructureFiber）。光纤的中心，即被空气孔阵列包层包围的纤芯部位，可以视为周期结构阵列中存在的“缺陷”。光子晶体光纤的微结构特性主要由三个参量决定，即空气孔的直径d，相邻两孔之间的距离Δ，以及纤芯的直径D。光子晶体光纤的这种微结构特定 ...
镜物方介质的折射率 n 和物方孔径角正弦之乘积，用符号 NA来表示，即(1) 显微物镜的分辨率δ显微物镜的分辨率是以它能够分辨开两点的较小距离δ来表示的，计算公式为：当被观察体本身不发光，需要其他照明光源时，随照明条件的不同，计算公式将有所变化。根据阿贝的研究，对物体进行斜人射照明时，较小分辨率为：由以上公式可见，对于一定波长的单色光，在像差校正良好的情况下，显微镜的分辨率完全曲物镜的数值孔径决定。数值孔径越大，分辨率越高。当物方介质为空气时，物镜较大的数值孔径为 1，一般只有 0.9 左右。而在物体和物镜之间接以高折射率液体（如n=1.5~1.7的油）时，数值孔径可达1.5~1.6。这种在物 ...
x边缘射线的折射不变量，对应的x-RSOS。为了说明这一点，我们将边缘射线重写为因此，我们看到量，在相关的x-RSOS中和曲面j上是x边缘射线的折射不变量。类似地，x主射线在曲面j上的折射不变量为类似地，从如下y相关边缘射线公式中我们知道曲面j上相关y-RSOS的折射不变量为通过国产成人在线观看免费网站上述四个推出来的方程，在由之前推出的方程得到与两个RSOS相关的拉格朗日不变量从之前我们对变形系统的近轴像性质，我们发现我们可以把近轴变形系统看作两个相关联的RSOS，因此我们已知的两个RSOS的所有结果都可以直接国产成人在线观看免费网站于变形系统。我们还发现在一个变形系统中只有两条独立的近轴斜光线，但我们更倾向于使用在相关的x-RS ...
显然，材料的折射率n可以通过测量反射率R来决定。实际情況下，折射率n随波长变化（就是说，材料会发生色散）。但是因为已经知道很多波长的反射率，在这些波长下的折射率n就可以推算出来，如上面的公式所示。多层界面现在考虑涂在材料上的一层薄膜。这种情形下，薄膜的顶部和底部都会反射光。总反射光量是这两部分反射光的叠加。因为光的波动性，这两部分反射光可能干涉相长（强度相加）或干涉相消（强度相减)，这取决于它们的相位关系。而相位关系取决于这两部分反射光的光程差，光程差又是由薄膜厚度，光学常数，和光波长决定的。当薄膜内光程等于光波长的整数倍时，两组反射光相位相同，因而干涉相长。当光重直人射到透明薄膜时就是这种情 ...
膜厚测量原理（三）-通过光谱反射确定薄膜特性薄膜反射率的振幅和周期取决于薄膜厚度，光学常数，和界面粗糙度等其它特性。在多于一个界面的情况下，薄膜的光学特性不可能以解析解的形式来算出来，也不可能在每个波长下描述n和k值。实际国产成人在线观看免费网站中，一定波长范围内的n和k由数学模型根据几个可调节参数模拟得出。薄膜特性通过计算厚度实验值及n与k模型参数的反射光谱来确定，不断调整这些数据，直到计算反射率和测量反射率相匹配。n和K的建模有许多数学模型描述波长的函数n和k。为某种薄膜选择模型时，在准确描述相关波长范围n和k的情况下，变量越少越好。一般来讲，不同材料（如：电介质，半导体，金属和非金属）的光学常数随波长有很大 ...
膜厚测量原理（四）-膜厚测量的方法可变量的个数，光谱反射法的局限光谱反射法可以测量多种类型薄膜的厚度，粗糙度和光学常数。但是，如果只有不到一个周期的反射率振荡（如：薄膜太薄），那么就不会产生足够的信息来确定模型的可变量。这样，对于非常薄的薄膜，可确定的薄膜特性的数量就会减少。如果试图解决太多的变量，不可能找到唯①的解答；这种情况下待求变量的多种组合都可能使得反射率计算值与测量值匹配。取决于薄膜和测量的波长范围，光谱反射法测量的单层薄膜的较小厚度为1纳米到30纳米。如果还要测量光学常数，除非使用较少变量模型，可测较小厚度增加为10纳米到200纳米。如果测量超过一层的薄膜的光学特性，较小厚度将进一 ...
键。传统阶跃折射率型单模光纤在其中心具有较高的折射率，包层材料具有较低的折射率，以便通过全内反射的机理传输光波电磁场，其导模的有效折射率介于芯层中心折射率和包层折射率之间。科学家们不断地对光纤进行探索，经过不懈努力发现了光纤中新的导光机理，新型的空芯光纤不再局限于传统的内反射原理，其光纤的纤芯折射率可以低于包层折射率，低折射率纤芯的光纤也可以传输光波电磁场科学家们发明并提出多种新型特种光纤，如微结构光纤，多空光纤，反谐振光纤等。这些新型的特种光纤不仅在长距离传输上有着良好的优势，并且在生物传感、气体传感等国产成人在线观看免费网站上有着很好的性能。图1.光纤设计结构示意图1999年，P.St.J.Russell在《 ...
表面粗糙度、折射率等参数的高精度测量。点衍射干涉仪不需要标准参考件，可以用于高精度面型的检测，是一种非常重要的高精度测量仪器。1.1测试光路测试系统主要由D7点衍射干涉仪主机，准直器，5mm口径铝镜，光学平台等构成。1.2 测试环境温度：21℃±1℃；湿度：30%-70%1.3 绝对精度检测（Accuracy）绝对精度的检测采用波前均方根差（wavefront RMS differential ，WRMSD）的计算方法，WRMSD是干涉仪稳定性和测量有效性的严格标准。它定义为所有测量波前差异的均方差加上2X均方差的测量集，并定义为所有测量波前的平均值的综合参考。测试步骤：1）测试部分从0°开始 ...
加工和装调；折射率的变化应能保证挑选到相应的玻璃等，称为变量边界条件。变量边界条件除应考虑工艺条件和材料的可能性，还要考虑到程序处理的方便和不致引起收敛过程的波动。对于各类变量可作如下的限制：曲率半径一般不需给以限制(因为自动设计中为了确保像差的良好校正，并不会导致半径的极度变小）；透镜的厚度应严格限制下限(可令d≥0.1D,D为透镜口径）,为了防止透镜过厚，对上限也可适当提出限制；透镜的空气间隔只需限制下限；透镜的折射率可限制在 1.48～1.85 范围，并将其分段，以便能与色散或阿贝数相适应。第二类边界条件是以结构参数为自变量的函数的边界条件，是对结构参数函数的限制，包括正透镜的边缘厚度、 ...
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