折射率引導型光子晶體(ti) 光纖的結構類型與(yu) 機理前言：光子晶體(ti) 光纖（Photonic Crystal Fiber，PCF）的概念。與(yu) 普通光纖是由包層與(yu) 纖芯兩(liang) 種介質組成向類比，光子晶體(ti) 光纖通常是由單一介質構成的，其包層周期性地規則對稱分布著具有波長量級的空氣孔陣列，包層外為(wei) 塗覆層。因此，也可以稱其為(wei) “多孔光纖”（HoleyFiber）或“微結構光纖”（MicrostructureFiber）。光纖的中心，即被空氣孔陣列包層包圍的纖芯部位，可以視為(wei) 周期結構陣列中存在的“缺陷”。光子晶體(ti) 光纖的微結構特性主要由三個(ge) 參量決(jue) 定，即空氣孔的直徑d，相鄰兩(liang) 孔之間的距離Δ，以及纖芯的直徑D。光子晶體(ti) 光纖的這種微結構特定 ...
軸經曆不同的折射率。雙折射也可以引入外部或殘餘(yu) 應力在大塊材料。在非常短的波長(即157 nm)， CaF2顯示應力誘導雙折射和更強的內(nei) 稟雙折射(也稱為(wei) 空間色散雙折射)。CaF2中的雙折射為(wei) 高性能的印刷国产成人在线观看免费网站帶來了性能問題。雙折射的傳(chuan) 統測量方法是讓光束穿過放置在交叉偏振器之間的樣品。光強通常在樣品旋轉360°時檢測。雙折射的大小與(yu) 較大信號(快軸與(yu) 偏振器軸為(wei) 45°)和較小信號(快軸與(yu) 偏振器軸平行或垂直)的差值有關(guan) 。該方法有測量時間長、精度低等缺點。每個(ge) 采樣點都要旋轉一個(ge) 樣品，這使得雙折射映射不切實際光彈性調製器(PEM)技術為(wei) 交叉偏振器技術提供了更好的選擇。PEM在高頻率(名義(yi) 上為(wei) 50千赫)調製入射 ...
顯然，材料的折射率n可以通過測量反射率R來決(jue) 定。實際情況下，折射率n隨波長變化（就是說，材料會(hui) 發生色散）。但是因為(wei) 已經知道很多波長的反射率，在這些波長下的折射率n就可以推算出來，如上麵的公式所示。多層界麵現在考慮塗在材料上的一層薄膜。這種情形下，薄膜的頂部和底部都會(hui) 反射光。總反射光量是這兩(liang) 部分反射光的疊加。因為(wei) 光的波動性，這兩(liang) 部分反射光可能幹涉相長（強度相加）或幹涉相消（強度相減)，這取決(jue) 於(yu) 它們(men) 的相位關(guan) 係。而相位關(guan) 係取決(jue) 於(yu) 這兩(liang) 部分反射光的光程差，光程差又是由薄膜厚度，光學常數，和光波長決(jue) 定的。當薄膜內(nei) 光程等於(yu) 光波長的整數倍時，兩(liang) 組反射光相位相同，因而幹涉相長。當光重直人射到透明薄膜時就是這種情 ...
膜厚測量原理（三）-通過光譜反射確定薄膜特性薄膜反射率的振幅和周期取決(jue) 於(yu) 薄膜厚度，光學常數，和界麵粗糙度等其它特性。在多於(yu) 一個(ge) 界麵的情況下，薄膜的光學特性不可能以解析解的形式來算出來，也不可能在每個(ge) 波長下描述n和k值。實際国产成人在线观看免费网站中，一定波長範圍內(nei) 的n和k由數學模型根據幾個(ge) 可調節參數模擬得出。薄膜特性通過計算厚度實驗值及n與(yu) k模型參數的反射光譜來確定，不斷調整這些數據，直到計算反射率和測量反射率相匹配。n和K的建模有許多數學模型描述波長的函數n和k。為(wei) 某種薄膜選擇模型時，在準確描述相關(guan) 波長範圍n和k的情況下，變量越少越好。一般來講，不同材料（如：電介質，半導體(ti) ，金屬和非金屬）的光學常數隨波長有很大 ...
膜厚測量原理（四）-膜厚測量的方法可變量的個(ge) 數，光譜反射法的局限光譜反射法可以測量多種類型薄膜的厚度，粗糙度和光學常數。但是，如果隻有不到一個(ge) 周期的反射率振蕩（如：薄膜太薄），那麽(me) 就不會(hui) 產(chan) 生足夠的信息來確定模型的可變量。這樣，對於(yu) 非常薄的薄膜，可確定的薄膜特性的數量就會(hui) 減少。如果試圖解決(jue) 太多的變量，不可能找到唯①的解答；這種情況下待求變量的多種組合都可能使得反射率計算值與(yu) 測量值匹配。取決(jue) 於(yu) 薄膜和測量的波長範圍，光譜反射法測量的單層薄膜的較小厚度為(wei) 1納米到30納米。如果還要測量光學常數，除非使用較少變量模型，可測較小厚度增加為(wei) 10納米到200納米。如果測量超過一層的薄膜的光學特性，較小厚度將進一 ...
鍵。傳(chuan) 統階躍折射率型單模光纖在其中心具有較高的折射率，包層材料具有較低的折射率，以便通過全內(nei) 反射的機理傳(chuan) 輸光波電磁場，其導模的有效折射率介於(yu) 芯層中心折射率和包層折射率之間。科學家們(men) 不斷地對光纖進行探索，經過不懈努力發現了光纖中新的導光機理，新型的空芯光纖不再局限於(yu) 傳(chuan) 統的內(nei) 反射原理，其光纖的纖芯折射率可以低於(yu) 包層折射率，低折射率纖芯的光纖也可以傳(chuan) 輸光波電磁場科學家們(men) 發明並提出多種新型特種光纖，如微結構光纖，多空光纖，反諧振光纖等。這些新型的特種光纖不僅(jin) 在長距離傳(chuan) 輸上有著良好的優(you) 勢，並且在生物傳(chuan) 感、氣體(ti) 傳(chuan) 感等国产成人在线观看免费网站上有著很好的性能。圖1.光纖設計結構示意圖1999年，P.St.J.Russell在《 ...
表麵粗糙度、折射率等參數的高精度測量。點衍射幹涉儀(yi) 不需要標準參考件，可以用於(yu) 高精度麵型的檢測，是一種非常重要的高精度測量儀(yi) 器。1.1測試光路測試係統主要由D7點衍射幹涉儀(yi) 主機，準直器，5mm口徑鋁鏡，光學平台等構成。1.2 測試環境溫度：21℃±1℃；濕度：30%-70%1.3 絕對精度檢測（Accuracy）絕對精度的檢測采用波前均方根差（wavefront RMS differential ，WRMSD）的計算方法，WRMSD是幹涉儀(yi) 穩定性和測量有效性的嚴(yan) 格標準。它定義(yi) 為(wei) 所有測量波前差異的均方差加上2X均方差的測量集，並定義(yi) 為(wei) 所有測量波前的平均值的綜合參考。測試步驟：1）測試部分從(cong) 0°開始 ...
加工和裝調；折射率的變化應能保證挑選到相應的玻璃等，稱為(wei) 變量邊界條件。變量邊界條件除應考慮工藝條件和材料的可能性，還要考慮到程序處理的方便和不致引起收斂過程的波動。對於(yu) 各類變量可作如下的限製：曲率半徑一般不需給以限製(因為(wei) 自動設計中為(wei) 了確保像差的良好校正，並不會(hui) 導致半徑的極度變小）；透鏡的厚度應嚴(yan) 格限製下限(可令d≥0.1D,D為(wei) 透鏡口徑）,為(wei) 了防止透鏡過厚，對上限也可適當提出限製；透鏡的空氣間隔隻需限製下限；透鏡的折射率可限製在 1.48～1.85 範圍，並將其分段，以便能與(yu) 色散或阿貝數相適應。第二類邊界條件是以結構參數為(wei) 自變量的函數的邊界條件，是對結構參數函數的限製，包括正透鏡的邊緣厚度、 ...
;所在空間的折射率。相關(guan) 文獻：《幾何光學 像差 光學設計》（第三版）——李曉彤 岑兆豐(feng) 更多詳情請聯係昊量光電/歡迎直接聯係昊量光電關(guan) 於(yu) 昊量光電：上海昊量光電設備有限国产黄色在线观看是光電国产欧美在线專(zhuan) 業(ye) 代理商，国产欧美在线包括各類激光器、光電調製器、光學測量設備、光學元件等，涉及国产成人在线观看免费网站涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫療、科學研究、國防、量子光學、生物顯微、物聯傳(chuan) 感、激光製造等；可為(wei) 客戶提供完整的設備安裝，培訓，硬件開發，軟件開發，係統集成等服務。您可以通過我們(men) 昊量光電的官方網站www.weilancj.com了解更多的国产欧美在线信息，或直接來電谘詢4006-888-532。 ...
地測量厚度、折射率及消光係數。隻要將Semiconsoft 係統插入您電腦的USB接口，就能開始測量。整個(ge) 係統隻需要幾分鍾來設定，隻需要基本的電腦知識就能測量。這種簡單的硬件係統和直觀的軟件為(wei) 所有新用戶提供了薄膜知識。從(cong) 近紅外到紫外 係統能在波長200納米到1700納米 範圍內(nei) 測量厚度從(cong) 1納米到1.8毫米的薄膜。Semiconsoft 係統可測量幾乎所有常用材料做成的透光薄膜。容易操作的軟件用戶能很快地掌握Semiconsoft軟件熟悉而又友好的界麵。測量一次大約一秒。測量數據，及測量細節能夠非常容易地通過標準Windows文件存盤和輸出。另外，公開的 NET 程序非常 容易地讓其他軟件來控製 ...
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