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膜厚測量儀

在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70

  • 在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70
產線生產光學無接觸薄膜厚度連續測量

所屬類別:光學檢測設備 » 膜厚測量儀(yi)

所屬品牌:美國Semiconsoft国产黄色在线观看

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姓名:李工(Maple)

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郵箱:qiang-li@weilancj.com

在線薄膜厚度實時測量儀(yi) -MPROBE 70


 


在線薄膜厚度實時測量儀(yi) -MPROBE 70是一種高性能厚度測量係統。在線薄膜厚度實時測量儀(yi) -MPROBE 70基於(yu) 光譜反射率和/或透射率測量,專(zhuan) 為(wei) 產(chan) 線的連續測量而設計。一些示例包括卷對卷生產(chan) 中的卷材測量(薄膜和塗層的厚度)、建築玻璃生產(chan) (反射率、透射率和顏色坐標)、軋製金屬板(油或塗層厚度)等等。我們(men) 的厚度測量係統有效地測量薄膜和厚片,具有多層分辨力;透明、彩色和有色薄膜;有機或水性塗料和粘合劑。在線薄膜厚度實時測量儀(yi) -MPROBE 70與(yu) 其他聚合物(如 PR、PP 和離聚物)同時測量阻隔膜(如尼龍、EVOH 或 PVD)的厚度。聚合物、玻璃、金屬、塑料、半導體(ti) 和其他無孔材料上的塗層厚度。

 


在線薄膜厚度實時測量儀(yi) -MPROBE 70的優(you) 勢:

1.配置靈活:與(yu) PC或PLC集成

2.TCP-IP (1Gb) 快速可靠的通信

3.針對国产成人在线观看免费网站需求定製的係統配置

4.不同型號取決(jue) 於(yu) 波長、厚度範圍和測量速度

5.固件嵌入式數據分析選件(內(nei) 置 TFC)可實現超快速測量

6.在指定波長範圍內(nei) 測量反射和/或透射光譜

7.可選參數測量



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