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膜厚測量儀

微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP

  • 微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP
晶圓、各類曲麵無接觸光學小點薄膜厚度測量

所屬類別:光學檢測設備 » 膜厚測量儀(yi)

所屬品牌:美國Semiconsoft国产黄色在线观看

国产欧美在线負責人:

姓名:李工(Maple)

電話:130 2028 5269(微信同號)

郵箱:qiang-li@weilancj.com

微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP


MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在係統中同時結合顯微鏡,用於(yu) 小點薄膜厚度測量。微小區域薄膜厚度測量儀(yi) -MPROBE 40 MSP用於(yu) 數千種国产成人在线观看免费网站程序,並提供完整的標準模型係列來支持它們(men) 。微小區域薄膜厚度測量儀(yi) -MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度,包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀(yi) 的波長範圍和分辨率來區分,這反過來又決(jue) 定了可以測量的厚度範圍。


 


 

微小區域薄膜厚度測量儀(yi) -MPROBE 40 MSP的国产成人在线观看免费网站:

1. 測量圓柱或曲麵上薄膜厚度:注射器、支架、銷釘、電線等。即使在高度彎曲的表麵上,小點也會(hui) 產(chan) 生平坦的場以實現精確測量。

2. 不均勻、粗糙的塗層或光散射材料,如高霧度或納米粒子注入薄膜。小光斑定位測量有效地減少光散射和不均勻性的影響

3.圖案晶圓、MEMS 和其他需要高靈敏度領域的小區域測量的国产成人在线观看免费网站。

 

微小區域薄膜厚度測量儀(yi) -MPROBE 40 MSP基本規格:

精度

0.01nm0.01%

準確度

0.2%1nm

穩定性

0.02nm0.03%

聚焦點尺寸

0.2mm0.4mm

樣品尺寸

>20mm

厚度範圍

0.05-70um

波長範圍

400-1000nm

 

微小區域薄膜厚度測量儀(yi) -MPROBE 40 MSP選型列表:

MProbe 40 

波長範圍

厚度範圍

VIS

400nm -1100nm

10nm – 75 μm

UVVISSR

200nm -1100nm

1nm -75μm

VISHR

700nm-1100nm

1μm-400μm

NIR

900nm-1700nm

50nm – 85μm

UVVisF

200nm -1700nm

1nm – 85μm

UVVISNIR

200nm-800nm

1nm -5μm

NIRHR

1500nm -1550nm

10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)

*可根據要求設計定製探頭



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